Бесплатный звонок по России
8 (800) 770-78-98
Отправить заявку
Мы предлагаем

Оригинальные компоненты для вашего СЭМ от ведущих мировых брендов

Обеспечим оперативную поставку вольфрамовых нитей и катодов Шоттки для всех типов современных сканирующих электронных микроскопов таких производителей как Jeol, Hitachi, Zeiss, LEO, Cambridge, AEI, Tescan, Amray и др.

Широкий спектр номенклатуры оригинальных расходных материалов для СЭМ от компаний Denka, Hitachi, Agar и Jeol в максимально короткие сроки поставки и по доступным ценам!
image alt

Одними из самых распространенных расходных материалов при эксплуатации сканирующих электронных микроскопов (СЭМ) являются вольфрамовые нити, также известные как катоды или эмиттеры (излучатели) электронов.

Средний срок службы эмиттеров составляет около 1000 рабочих часов в зависимости от интенсивности эксплуатации микроскопа. Далее требуется их замена с обязательным соблюдением всех необходимых мер предосторожности.

В зависимости от модели и производителя микроскопа, могут использоваться катоды из вольфрама, гексаборида лантана, а также катоды Шоттки (принцип полевой эмиссии).


Основными производителями катодов, предлагаемых нами к поставке, являются фирмы Hitachi (Япония), Jeol (Япония), Agar Scientific (Великобритания) и Denka (Япония).



Вольфрамовые нити от Agar Scientific

Вольфрамовые нити от Agar Scientific обладают высокой пластичностью для минимизации деформации.
Совместимы с электронными микроскопами Cambridge, LEO, Zeiss, Tescan и FEI.
Производятся в лабораториях Agar Scientific в строгом соответствии с самыми высокими стандартами.
Поставляется в упаковках по 10 штук.


Примеры артикулов: AGA086OC, AGA054-10, AGA047, AGA092, AGA045, AGA042, AGA043X и пр.

AGA045
hitachi 51E-0240

Картриджи Hitachi с вольфрамовой нитью

Поставляются в упаковках по 10 штук.
Используются в микроскопах серии S-3000, SU3900, SU3800, SU3500, Flex SEM1000, SU-1500, TM-1000/TM3000/ TM4000

Примеры артикулов: 51E-0240, 51E-0250
SE 511-0555

Катоды Шоттки от Denka

Полевые катоды Denka серии TFE лучше всего подходят для поверхностного наблюдения полупроводниковых материалов и устройств.
DENKA TFE обладают чрезвычайно стабильным током эмиссии и длительным сроком службы.
Применяются в передовых сканирующих электронных микроскопах (СЭМ), аналитических просвечивающих электронных микроскопах (АЭМ) и электронно-лучевых литографических устройствах.
Примеры артикулов: 174С, 174, 174C SE, 174C TE, 174 CZ, 174 C/FEI, 174C TSC, 174C TSC2, Module C2, Module AMAT02, Module AMAT08S, 174C CZ, 174 H, 174C SE4, 174 MR05, 174 MR30, 174SV LR07174С и другие.
Denka TFE
В поисках оригинальных компонентов для СЭМ?

Укажите свои контакты для обратной связи, артикулы требуемых материалов и наш менеджер вышлет вам лучшее предложение!

Нажимая кнопку "Отправить заявку", я даю свое согласие на обработку моих персональных данных, в соответствии с Федеральным законом от 27.07.2006 года №152-ФЗ "О персональных данных", на условиях и для целей, определенных в Согласии на обработку персональных данных, а также с Политикой конфиденциальности.

Заявка оформлена
Наш менеджер позвонит вам в течение 15 минут уточнить детали. Хорошего дня!